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材料性能表征测试

透射电子显微镜

仪器品牌:日本电子株式会社(JEOL)

仪器型号:JEM-2100PLUS

 

基本功能:

1. 点分辨率:0.23nm、线分辨率:0.14nm;放大倍数可达150万倍,能反映样品的内部结构,微区的晶体结构和组织的观察与分析;

2. 配置能谱探测器,可做EDS分析,可用于超微结构的成分分析;

 

仪器主要技术参数:

1. 点分辨率:≤0.23nm

2. 线分辨率:≤0.14nm

3. 加速电压:80 ~ 200kV可调

4. 电子光路快速切换:TEM/EDS/NBD/CBD模式一键式切换;操作键盘和旋钮控制电子束会聚角度变化

5. 放大倍率

5.1 MAG模式:x2,000 - x1,500,000

5.2 LOW MAG模式:x30 – x6000

6. EDS系统:

6.1 SDD电制冷能谱仪, 探测器有效面积80mm2

6.2 能量分辨率:Mn Ka保证优于127eV,元素分析范围:从Be4-U92

7. 相机系统

7.1 像素:5120*3840 CMOS相机

7.2 有效像素尺寸:13 um×13 um

 

送样要求:

1. 粉末样品颗粒直径<100nm,固体块体样品要预先减薄制作,厚度100 nm以下;

2. 样品在高真空中能保持稳定;

3. 不含有水分或其它易挥发物,水分或其他易挥发物的试样应先烘干除去;

4. 不能测试磁性样品;

5. 生物样品符合生物安全标准。

6. 需自行提前制备好样品。

 

联系方式:

测试地点:国科大重庆学院6号楼104

管理人员:易夏琳

联系电话:18064098409