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材料性能表征测试

场发射扫描电子显微镜

仪器品牌:日本电子株式会社(JEOL)

仪器型号:JSM-7800F

 

基本功能:

1.配备LED和UED探 头,可进行SEM、GB等不同多种工作模式间的切换,实现高倍率二次电子图像的采集。

2.配有背散射探头,可进行背散射电子图像的采集。

3.结合OXFORD的X-Max50能谱探测器,可进行成分分析,以及元素的线扫描、面分布分析。

4.搭载EXENOS电子束光刻系统,可进行纳米级光刻。 

 

送样要求:

1.固体粉末或块状样品,块状直径小于40mm,高度小于30mm,样品表面无浮粉,粉末样品粘贴后用氮枪吹去浮粉。

2.测试样品应具有良好的导电性且无磁性(磁铁吸不起来),导电性差的样品测试前联系管理老师进行喷金等处理。

3.测试样品热稳定性好,不含有水分或其它易挥发物,任何潮湿含有水分的样品一律不接受观测请求。 

 

联系方式: 

测试地点:综合楼一楼南超净间

管理人员:卢虹颖

联系电话:13399887381