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材料性能表征测试

X射线衍射仪

仪器品牌:帕纳科(PANalytical)

仪器型号:X'Pert3Powder

 

基本功能:

1. 常规XRD测试;

2. 小角XRD测试;

3. 掠入射GIXRD测试;

4. 残余应力测试

5. 薄膜厚度测试

6. 后期分析(定性定量分析,结晶度分析等)

 

仪器主要技术参数:

1. 输出功率:3kW

2. 额定电压电流:60kV、60mA

3. 光源:点光源、线光源

4. 光管靶材:Cu靶、Cr靶

5. 角度重现性:0.0001°

6. 测量范围:0度—160度

 

送样要求:

1.可测粉末、薄膜、固体样品

2. 粉末样品需3g左右,颗粒度达300目(提供样品制备服务);薄膜厚度需20nm以上;固体样品测试面平整,所有测试面需要达到10mm*10mm

 

联系方式:

测试地点:综合楼1层北超净间

管理人员:胡磊

联系电话:18623603767